Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York Jan 2013, 2013

1461461626 / 9781461461623

Serie: Libro 57 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. 216 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461461623

Título
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Autor
Georges Gielen
Editorial
Springer New York Jan 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461461626
ISBN 13
9781461461623
Peso del artículo
494 gramos
Dimensiones
241x160x15 mm
Serie
Libro 57 de 124: Analog Circuits and Signal Processing

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