Advanced Interconnects for ULSI Technology Format: Hardcover

Mikhail Baklanov (IMEC); Paul S. Ho (University of Texas at Austin); Ehrenfried Zschech (Fraunhofer Inst. for Non-Destr. Testing)

ISBN 10: 0470662549 ISBN 13: 9780470662540
Editorial: John Wiley and Sons, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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