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VLSI testing methodology and can be measured Design(Chinese Edition)
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Electronic Industry Press, 1991
ISBN 10: 7121003791
ISBN 13: 9787121003790
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Librería: liu xing, Nanjing, JS, China
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Publisher: Electronic Industry. Nº de ref. del artículo: D86825
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