ISBN: 9787121003790 - vlsi testing methodology and can be measured design (1 resultados)

Editorial: Electronic Industry Press, 1991
- Tapa blanda
Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 52,83
Envío por EUR 16,02Se envía de China a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
paperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Publisher: Electronic Industry.