Optics of Corpuscles / Korpuskularoptik
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Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. G¿te von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Gl¿hkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronensto¿uellen.- c) Ionenquellen f¿r Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur ¿ber Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlb¿ndeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekr¿mmter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberfl¿en abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Ger¿edingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen ¿ber das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung ¿ber Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Aufl¿sung (A 712 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783642458545
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. Guete von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrah. Nº de ref. del artículo: 5061708
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. G¿te von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Gl¿hkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronensto¿uellen.- c) Ionenquellen f¿r Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur ¿ber Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlb¿ndeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekr¿mmter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberfl¿en abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Ger¿edingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen ¿ber das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung ¿ber Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Aufl¿sung (A < 1000).- III. Kombination von elektrischen und magnetischen Ablenkfeldern zu richtungs-, geschwindigkeits- und doppelfokussierenden Apparaten meist hoher Aufl¿sung.- IV. Hochfrequenz-Massenspektrometer.- Literatur.- Beta-Ray Spectroscopes.- I. Introduction.- II. Fundamental principles of beta-ray spectroscopy.- III. Flat spectroscopes.- IV. Lens spectroscopes.- V. Comparison between different types.- VI. Electrostatic field spectroscopes.- VII. High precision beta and gamma-ray spectroscopy.- VIII. Experimental techniques.- IX. Beta-ray spectroscopic technique applied to gamma-ray spectroscopy.- X. Coincidence spectrometers.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German). Nº de ref. del artículo: 9783642458545
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