Sinopsis
Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.
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Reseña del editor
The first volume in the series was released in January 2004 and the second to fourth volumes in early 2006. The field is now progressing so fast that there is a need for one volume every 12 to 18 months to capture latest developments.
Volume VI presents 10 chapters on a variety of new and emerging techniques and refinements of SPM applications.
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Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization (NanoScience and Technology)
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Applied Scanning Probe Methods Vi (Hb)
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Applied Scanning Probe Methods Vi Characterization
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APPLIED SCANNING PROBE METHODS VI: CHARACTERIZATION
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APPLIED SCANNING PROBE METHODS VI (HB)
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APPLIED SCANNING PROBE METHODS VI: CHARACTERIZATION
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APPLIED SCANNING PROBE METHODS VI: CHARACTERIZATION
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Applied Scanning Probe Methods Vi
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