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Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK: 107 (Springer Proceedings in Physics, 107) - Tapa dura
Libro 13 de 166: Springer Proceedings in Physics
Sinopsis
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.
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De la contraportada
This is a long-established international biennial conference series, organised in conjunction with the Royal Microscopical Society, Oxford, the Institute of Physics, London and the Materials Research Society, USA. The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction. Developments in materials science and technology covering the complete range of elemental and compound semiconductors are described in this volume.
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Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK (Springer Proceedings in Physics, 107)
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Microscopy of Semiconducting Materials
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Springer Berlin Heidelberg, 2006
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ISBN 13: 9783540319146
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Condición: New. Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Structural properties of GaN quantum dots.- Stranski-Krastanov growth for InGaN/GaN: wetting layer thickness changes.- Investigation of InxGa1?x N islands with electron microscopy.- First stage of nucleation of GaN on (0001. Nº de ref. del artículo: 4887627
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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
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