Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - Tapa blanda

Egerton, R.F.

 
9783319398785: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Tapa blanda
ISBN 10: 3319398784 ISBN 13: 9783319398785
Editorial: Springer, 2016

Esta edición ISBN ya no está disponible.

Sinopsis

An Introduction to Microscopy.- Electron Optics.- The Transmission Electron Microscope.- TEM Specimens and Images.- The Scanning Electron Microscope.- Analytical Electron Microscopy.- Special Topics.- Appendix: Mathematical Derivations.

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Editorial
Springer
Año de publicación
2016
Idioma
Inglés
ISBN 10 
3319398784
ISBN 13 
9783319398785
Encuadernación
Taschenbuch
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Alemania

Otras ediciones populares con el mismo título

9783319819860: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Edición Destacada

ISBN 10:  3319819860 ISBN 13:  9783319819860
Editorial: Springer, 2018
Tapa blanda