VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science) - Tapa blanda

9783031215131: VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science)

Tapa blanda

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Editorial: Springer, 2022

Ver todas las copias de esta edici�n del ISBN

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.

The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edici�n de este libro.

Editorial: Springer
A�o de publicaci�n: 2022
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 3031215133
ISBN 13: 9783031215131
Encuadernaci�n: Tapa blanda
N�mero de edici�n: 1
N�mero de p�ginas: 616
Editor: Shah Ambika Prasad, Dasgupta Sudeb, Darji Anand, Tudu Jaynarayan
Contacto del fabricante: Springer Nature Customer Service Center GmbH
ProductSafety@springernature.com

Europaplatz 3,69115 Heidelberg, Germany
Heidelberg
69115
Alemania

Resultados de la b�squeda para VLSI Design and Test: 26th International Symposium,...

Imagen de archivo

VLSI Design and Test (eng)

Shah, Ambika Prasad

Publicado por Springer, 2022

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo Tapa blanda

Impresi�n bajo demanda

Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

Condici�n: new. Questo � un articolo print on demand. N� de ref. del art�culo: GVJN250KOI

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 86,24

Env�o por EUR 8,00
Se env�a de Italia a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: M�s de 20 disponibles

A�adir al carrito

Imagen de archivo

VLSI Design and Test

Publicado por Springer, 2022

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo Tapa blanda

Impresi�n bajo demanda

Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

Condici�n: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days. Excellent Customer Service. N� de ref. del art�culo: POD-341086

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 100,52

Gastos de env�o gratis
Se env�a dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 10 disponibles

A�adir al carrito

Imagen de archivo

VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)

Publicado por Springer, 2022

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo Tapa blanda

Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

Condici�n: New. In. N� de ref. del art�culo: ria9783031215131_new

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 104,56

Env�o por EUR 14,04
Se env�a de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: M�s de 20 disponibles

A�adir al carrito

Imagen de archivo

VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers

Shah, Ambika Prasad

Publicado por Springer 2022-12, 2022

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo PF

Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

PF. Condici�n: New. N� de ref. del art�culo: 6666-IUK-9783031215131

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 102,09

Env�o por EUR 18,15
Se env�a de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 10 disponibles

A�adir al carrito

Imagen del vendedor

VLSI Design and Test

Ambika Prasad Shah

Publicado por Springer Nature Switzerland Dez 2022, 2022

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo Taschenbuch

Impresi�n bajo demanda

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

Taschenbuch. Condici�n: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design. 616 pp. Englisch. N� de ref. del art�culo: 9783031215131

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 106,99

Env�o por EUR 23,00
Se env�a de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

A�adir al carrito

Imagen del vendedor

VLSI Design and Test

Publicado por Springer, Berlin|Springer Nature Switzerland|Springer, 2023

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131

Nuevo Tapa blanda

Impresi�n bajo demanda

Librería: moluna, Greven, Alemania

Calificaci�n del vendedor: 5 de 5 estrellas

Condici�n: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and s. N� de ref. del art�culo: 738837130

Contactar al vendedor