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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (IOP Concise Physics) - Tapa blanda
Sinopsis
Since the turn of the century, the increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume 2: Applications and Advances discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.
Volume 2 explores the applications and development of quantum metrology schemes based on photoelectron measurements. The author begins with a brief historical background on "complete" photoionization experiments, followed by the details of state reconstruction methodologies from experimental measurements. Three specific applications of quantum metrology schemes are discussed in detail. In addition, the book provides advances, future directions, and an outlook including (ongoing) work to generalise these schemes and extend them to dynamical many-body systems. Volume 2 will be of interest to readers wishing to see the (sometimes messy) details of state reconstruction from photoelectron measurements as well as explore the future prospects for this class of metrology.
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Acerca del autor
Paul Hockett earned his PhD in 2008 from the University of Nottingham, UK and joined the National Research Council of Canada in 2009. Paul's research interests cover a range of topics spanning the areas of AMO (atomic, molecular, and optical), quantum, and computational physics (and physical chemistry), with a particular focus on fundamental light-matter interactions, spectroscopy, and application to complex systems.
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- EditorialIOP Concise Physics
- Año de publicación2018
- ISBN 10 1681746891
- ISBN 13 9781681746890
- EncuadernaciónTapa blanda
- IdiomaInglés
- Número de páginas126
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II Applications and Advances Iop Concise Physics
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Morgan and Claypool Publishers, 2018
ISBN 10: 1681746891
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Quantum Metrology With Photoelectrons: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons
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IOP Concise Physics, 2018
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Quantum Metrology With Photoelectrons: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons : Volume II: Applications and Advances
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Since the turn of the century, the increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume 2: Applications and Advances discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications. Volume 2 explores the applications and development of quantum metrology schemes based on photoelectron measurements. The author begins with a brief historical background on 'complete' photoionization experiments, followed by the details of state reconstruction methodologies from experimental measurements. Three specific applications of quantum metrology schemes are discussed in detail. In addition, the book provides advances, future directions, and an outlook including (ongoing) work to generalise these schemes and extend them to dynamical many-body systems. Volume 2 will be of interest to readers wishing to see the (sometimes messy) details of state reconstruction from photoelectron measurements as well as explore the future prospects for this class of metrology. Nº de ref. del artículo: 9781681746890
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