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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (IOP Concise Physics) - Tapa dura
- EditorialIOP Concise Physics
- Año de publicación2018
- ISBN 10 1643270001
- ISBN 13 9781643270005
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas126
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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II Applications and Advances Iop Concise Physics
Publicado por
Morgan and Claypool Publishers, 2018
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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnSince the turn of the century, the increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and. Nº de ref. del artículo: 477464591
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