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EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications - Tapa blanda

 
9781475712407: EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications

Sinopsis

This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.

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Reseña del editor

This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.

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9780306406546: EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications

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ISBN 10:  0306406543 ISBN 13:  9780306406546
Editorial: Plenum Publishing Corporation, 1981
Tapa dura

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Teo, B. K. K.; Joy, D. C.
Publicado por Springer, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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B. K. Teo|D. C. Joy
Publicado por Springer US, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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D. C. Joy
Publicado por Springer US, Springer New York, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant. Nº de ref. del artículo: 9781475712407

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B. Kevin Teo
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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D. C. Joy
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 284 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781475712407

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B. K. Teo
Publicado por Springer, 2012
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D. C. Joy
Publicado por Springer US Okt 2012, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania

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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant. 284 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781475712407

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Teo, B. K.
Publicado por Springer 2012-10, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
Nuevo PF

Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido

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Teo, B. K., Joy, D. C.
Publicado por Springer, 2012
ISBN 10: 1475712405 ISBN 13: 9781475712407
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido

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