Artículos relacionados a Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques...

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Tapa blanda

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

 
9781461407898: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Tapa blanda
ISBN 10: 1461407893 ISBN 13: 9781461407898
Editorial: Springer, 2012

Esta edición ISBN ya no está disponible.

Sinopsis

Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Editorial
Springer
Año de publicación
2012
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1461407893
ISBN 13 
9781461407898
Encuadernación
Paperback
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
no disponible

(Ningún ejemplar disponible)

Buscar:



Crear una petición

¿No encuentra el libro que está buscando? Seguiremos buscando por usted. Si alguno de nuestros vendedores lo incluye en IberLibro, le avisaremos.

Crear una petición

Otras ediciones populares con el mismo título

9781461407874: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Edición Destacada

ISBN 10:  1461407877 ISBN 13:  9781461407874
Editorial: Springer, 2012
Tapa dura