From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Tapa blanda

Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech

 
9781461313786: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications
Tapa blanda
ISBN 10: 1461313783 ISBN 13: 9781461313786
Editorial: Springer, 2011

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Editorial
Springer
Año de publicación
2011
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1461313783
ISBN 13 
9781461313786
Encuadernación
Taschenbuch
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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Friedrich-Karl-Str. 9
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