Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Tapa blanda

Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi

 
9781447124719: Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach
Tapa blanda
ISBN 10: 1447124715 ISBN 13: 9781447124719
Editorial: Springer, 2012

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Sinopsis

Introduction: Away from trial and error methods.- Materials and interfaces in Microsystems.- Introduction to mechanics of materials.- Introduction to thermodynamic-kinetic method.- Interfacial adhesion in polymer systems.- Evolution of different types of interfacial structures.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2012
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1447124715
ISBN 13 
9781447124719
Encuadernación
Paperback
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no disponible
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