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Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification: 25 (Frontiers in Electronic Testing, 25) - Tapa dura
Libro 4 de 36: Frontiers in Electronic Testing
Sinopsis
This book presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. It brings the results in the direction of merging manufacturing test vector generation and verification.
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Críticas
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"This monograph presents, as its main contribution, methods to gain more confidence in verification by simulation. ... The methods presented in this book may be suitable to verify gate level circuits which may have small modifications after automatic optimization or some manual interaction." (Reiner Kolla, Zentralblatt MATH, Vol. 1049 (24), 2004)
Reseña del editor
This book presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. It brings the results in the direction of merging manufacturing test vector generation and verification.
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Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification (Frontiers in Electronic Testing, 25)
Librería: Peak Pearl LLC, Holly Springs, NC, Estados Unidos de America
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Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification (Frontiers in Electronic Testing, 25)
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Verification by Error Modeling : Using Testing Techniques in Hardware Verification
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Verification by Error Modeling : Using Testing Techniques in Hardware Verification
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Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification
Publicado por
Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 1402076525
ISBN 13: 9781402076527
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Hardback. Condición: Good. 1. DESIGN FLOW Integrated circuit (IC) complexity is steadily increasing. ICs incorporating hundreds of millions of transistors, mega-bit memories, complicated pipelined structures, etc., are now in high demand. For example, Intel Itanium II processor contains more than 200 million transistors, including a 3 MB third level cache. A billion transistor IC was said to be ?imminently doable? by Intel fellow J. Crawford at Microprocessor Forum in October 2002 [40]. Obviously, designing such complex circuits poses real challenges to engineers. Certainly, no relief comes from the competitive marketplace, with increasing demands for a very narrow window of time (time-to-market) in engineering a ready product. Therefore, a systematic and well-structured approach to designing ICs is a must. Although there are no widely adhered standards for a design flow, most companies have their own established practices, which they follow closely for in-house design processes. In general, however, a typical product cycle includes few milestones. An idea for a new product starts usually from an - depth market analysis of customer needs. Once a window of opportunity is found, product requirements are carefully specified. Ideally, these parameters would not change during the design process. In practice, initial phases of preparing a design specification are susceptible to potential errors, as it is very difficult to grasp all the details in a complex design. Nº de ref. del artículo: CIN0199278598G
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. aThis book presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. It brings the results in the direction of merging manufacturing test vector gen. Nº de ref. del artículo: 4095226
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Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 1402076525
ISBN 13: 9781402076527
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Condición: New. Presents the basis for reusing the test vector generation and simulation for the purpose of implementation verification, to result in a significant timesaving. This book brings the results in the direction of merging manufacturing test vector generation and verification. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 231 pages, biography. BIC Classification: TJFM1. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 509. . 2003. Hardback. . . . . Nº de ref. del artículo: V9781402076527
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Verification by Error Modeling : Using Testing Techniques in Hardware Verification
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - 1. DESIGN FLOW Integrated circuit (IC) complexity is steadily increasing. ICs incorporating hundreds of millions of transistors, mega-bit memories, complicated pipelined structures, etc., are now in high demand. For example, Intel Itanium II processor contains more than 200 million transistors, including a 3 MB third level cache. A billion transistor IC was said to be 'imminently doable' by Intel fellow J. Crawford at Microprocessor Forum in October 2002 [40]. Obviously, designing such complex circuits poses real challenges to engineers. Certainly, no relief comes from the competitive marketplace, with increasing demands for a very narrow window of time (time-to-market) in engineering a ready product. Therefore, a systematic and well-structured approach to designing ICs is a must. Although there are no widely adhered standards for a design flow, most companies have their own established practices, which they follow closely for in-house design processes. In general, however, a typical product cycle includes few milestones. An idea for a new product starts usually from an - depth market analysis of customer needs. Once a window of opportunity is found, product requirements are carefully specified. Ideally, these parameters would not change during the design process. In practice, initial phases of preparing a design specification are susceptible to potential errors, as it is very difficult to grasp all the details in a complex design. Nº de ref. del artículo: 9781402076527
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Impresión bajo demandaLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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