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Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford - Tapa dura
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Papers of the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, July 1987. Objectives include discussion of topics in VLSI and designing integrated circuits to yield targets. On yield loss mechanisms and defect tolerance, alternative prospects, catastrophic yield loss models, parametric yield l
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Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford
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Yield Modelling and Defect Tolerance in Vlsi
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Adam Hilger, 1988
ISBN 10: 085274398X
ISBN 13: 9780852743980
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