Isbn: 9780852743980 - yield modelling and defect tolerance in vlsi, papers presented at the int workshop on designing for yield, 1-3 july 1987, oxford (1 resultados)
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 310,59
Envío por EUR 29,33Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
