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Sinopsis
This book provides an in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) with a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. In this book, the techniques of XPS and SSIMS are described and in each case the author explains what type of information may be obtained. The book also includes details of case studies emphasising the complementary and joint application of XPS and SSIMS in the investigation of polymer surface structure and its relationship to the properties of the material. This book will be of value to academic and industrial researchers interested in polymer surfaces and surface analysis.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
Publicado por
Cambridge University Press, 1998
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
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Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies. Nº de ref. del artículo: 1354480/203
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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Cambridge University Press, 1998
ISBN 10: 0521352223
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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Condición: New. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies. Series Editor(s): Clarke, D. R.; Suresh, S.; Ward, I. M. Series: Cambridge Solid State Science Series. Num Pages: 214 pages, 119 b/w illus. 19 tables. BIC Classification: PNN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 13. Weight in Grams: 605. . 1998. hardcover. . . . . Nº de ref. del artículo: V9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
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ISBN 13: 9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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ISBN 10: 0521352223
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
Publicado por
Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies.Inhaltsverzeichnis1. Introduction 2. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 3. Information from polymer XPS 4. Static secondary ion mass sp. Nº de ref. del artículo: 446932714
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Hardcover)
Publicado por
Cambridge University Press, Cambridge, 1998
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. This book provides an in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) with a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. In this book, the techniques of XPS and SSIMS are described and in each case the author explains what type of information may be obtained. The book also includes details of case studies emphasising the complementary and joint application of XPS and SSIMS in the investigation of polymer surface structure and its relationship to the properties of the material. This book will be of value to academic and industrial researchers interested in polymer surfaces and surface analysis. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9780521352222
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