Otras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para Defect analysis in electron microscopy
Imagen del vendedor
Defect analysis in electron microscopy
Publicado por
Chapman and Hall, 1975
ISBN 10: 047054760X
ISBN 13: 9780470547601
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: acceptable. This book is in Acceptable condition. All pages are intact, but may have lots of notes, water damage or other issues and be ex library. Nº de ref. del artículo: BCV.047054760X.A
Comprar usado
EUR 886,88
Envío por EUR 6,87
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles