Isbn: 9780470547601 - defect analysis in electron microscopy (1 resultados)

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Chapman and Hall, 1975

    047054760X / 9780470547601

    • Tapa dura

    Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books

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    Condición: Usado - Regular

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