Artículos relacionados a Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspectiv...
Sinopsis
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Reseña del editor
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Resultados de la búsqueda para Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspectiv...
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Publicado por
Van Nostrand Reinhold, New York, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
Antiguo o usado
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Row By Row Bookshop, Sugar Grove, NC, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. First Edition. An ex-library copy in original pictorial hard covers. The usual ex-libris markings. The binding is sound, the text is clean/unmarked, and there is little cover wear. No dust jacket, apparently as issued. Book. Nº de ref. del artículo: 065871
Comprar usado
EUR 64,56
Envío por EUR 4,48
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Nº de ref. del artículo: DB-9780442006433
Comprar nuevo
EUR 94,60
Envío por EUR 4,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 2043133-n
Comprar nuevo
EUR 97,67
Envío por EUR 2,36
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Nº de ref. del artículo: DB-9780442006433
Comprar nuevo
EUR 100,11
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective (Electrical Engineering)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. Brand new book, sourced directly from publisher. Dispatch time is 9-10 days from our warehouse. Book will be sent in robust, secure packaging to ensure it reaches you securely. Nº de ref. del artículo: 6666-LBR-9780442006433
Comprar nuevo
EUR 101,81
Envío por EUR 5,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 2043133-n
Comprar nuevo
EUR 94,57
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: As New. Unread book in perfect condition. Nº de ref. del artículo: 2043133
Comprar usado
EUR 110,57
Envío por EUR 2,36
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: As New. Unread book in perfect condition. Nº de ref. del artículo: 2043133
Comprar usado
EUR 111,53
Envío por EUR 17,93
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Publicado por
Springer US, Springer Aug 1993, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
Nuevo
Tapa dura
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780442006433
Comprar nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Publicado por
Springer US, Springer Aug 1993, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
Nuevo
Tapa dura
Librería: Rheinberg-Buch Andreas Meier eK, Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780442006433
Comprar nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles