Sinopsis
While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact of ASIC testability on total system cost and performance, and reviews the commercial test systems that are currently available. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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Reseña del editor
While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o
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Designer's Guide to Testable Asic Devices
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Designer's Guide to Testable ASIC Devices
Publicado por
Van Nostrand Reinhold Company, 1991
ISBN 10: 0442002211
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DESIGNER'S GUIDE TO TESTABLE ASIC DEVICES (HB)
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Designer's Guide to Testable Asic Devices
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Designer's Guide to Testable Asic Devices
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Designer's Guide to Testable A.S.I.C. Devices
Publicado por
Kluwer Academic Publishers Group, 1991
ISBN 10: 0442002211
ISBN 13: 9780442002213
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Condición: New. While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o Num Pages: 298 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 607. . 1991. Hardback. . . . . Nº de ref. del artículo: V9780442002213
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Designer\ s Guide to Testable ASIC Devices
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Designer*s Guide to Testable Asic Devices
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