Otras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para Defect Analysis in Electron Microscopy
Imagen de archivo
Defect analysis in electron microscopy
Publicado por
Wiley : distributed by Halstead Press, 1975
ISBN 10: 0412137607
ISBN 13: 9780412137600
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. Former library book; Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Nº de ref. del artículo: G0412137607I4N11
Comprar usado
EUR 50,71
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles