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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Tapa blanda

 
9780387516530: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Tapa blanda
ISBN 10: 0387516530 ISBN 13: 9780387516530

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Inglés
ISBN 10 
0387516530
ISBN 13 
9780387516530
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