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Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing - Tapa blanda

 
9780367207816: Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Sinopsis

This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST).

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Acerca del autor

Duanli Yan is a Director of Computational Research at Educational Testing Services, Princeton, New Jersey, USA. She is also an adjunct professor at Rutgers University and Fordham University and has extensive experience in innovative psychometric research and development. She has published many books and received many awards, including the 2016 AERA D Significant Contribution to Educational Measurement and Research Methodology Award, and the 2022 and 2023 NCME Bradley Hanson Award.

Alina A. von Davier is the Chief of Assessment at Duolingo, Pittsburgh, Pennsylvania, USA. She leads the Duolingo English Test research and development area. She is a researcher in computational psychometrics, machine learning, and education. Von Davier is an innovator and an executive leader with over 20 years of experience in EdTech and in the assessment industry. In 2022, she joined the University of Oxford as an Honorary Research Fellow, and Carnegie Mellon University as a Senior Research Fellow.

David J. Weiss is a Professor of Psychology at University of Minnesota, Minnesota, USA. He has been continuously active in computerized adaptive testing (CAT) research since 1970, including hosting six international CAT conferences. He co-founded the International Association for Computerized Adaptive Testing, the Assessment Systems Corporation, and the Insurance Testing Corporation and was the founding editor of Applied Psychological Measurement and the Journal of Computerized Adaptive Testing.

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9780367207809: Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Edición Destacada

ISBN 10:  036720780X ISBN 13:  9780367207809
Editorial: Routledge, 2024
Tapa dura

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Publicado por Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
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Publicado por Routledge, 2024
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Duanli Yan
Publicado por Taylor & Francis Ltd, London, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
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Paperback. Condición: new. Paperback. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST).As a sequel to the widely acclaimed Computerized Multistage Testing: Theory and Applications (2014) by Yan, von Davier, and Lewis, this volume delves into the experiences, considerations, challenges, and lessons learned over the past years. It also offers practical approaches and solutions to the issues encountered. The topics covered include purposeful MST designs, practical approaches for optimal design, assembly strategies for accuracy and efficiency, hybrid designs, MST with natural language processing, practical routing considerations and methodologies, item calibration and proficiency estimation methods, routing and classification accuracy, added value of process data, prediction and evaluation of MST performance, cognitive diagnostic MST, differential item functioning, robustness of statistical methods, simulations, test security, the new digital large-scale Scholastic Aptitude Test, software for practical assessment and simulations, artificial intelligence impact, and the future of adaptive MST.This volume is intended for students, faculty, researchers, practitioners, and education officers in the fields of educational measurement and evaluation in the United States and internationally. This volume presents a comprehensive collection of the latest research findings supporting the current and future implementations and applications of computerized multistage testing (MST). Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9780367207816

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Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)
Publicado por Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
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Publicado por Routledge -, 2024
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Duanli Yan
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Yan Duanli
Publicado por Routledge, 2024
ISBN 10: 0367207818 ISBN 13: 9780367207816
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Duanli Yan
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