Artículos relacionados a IEEE International Symposium (DFT) (Defect and Fault...
Sinopsis
Papers from the 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerant in VLSI Systems.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Reseña del editor
Papers from the 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerant in VLSI Systems.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
EUR 101,86
EUR 92,06 gastos de envío desde Estados Unidos de America a España
Destinos, gastos y plazos de envíoResultados de la búsqueda para IEEE International Symposium (DFT) (Defect and Fault...
Imagen de archivo
1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France
Publicado por
IEEE Computer Society, 1997
ISBN 10: 0818681683
ISBN 13: 9780818681684
Antiguo o usado
paperback
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
paperback. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! Nº de ref. del artículo: S_328809026
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France. Proceedings
ISBN 10: 0818681683
ISBN 13: 9780818681684
Antiguo o usado
Softcover
Original o primera edición
Librería: Alien Bindings, BALTIMORE, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Softcover. Condición: Very Good. No Jacket. First Edition. Ex research library book. The covers look great. The binding is tight. The interior pages are clean and unmarked. Electronic delivery tracking will be issued free of charge. Nº de ref. del artículo: 09054
Cantidad disponible: 1 disponibles