Scanning Spreading Resistance Microscopy and its Application to Passive and Active Semiconductor Device Characterization

Idioma: inglés

Editorial: Logos Verlag Berlin, 2017

383254450X / 9783832544508

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  • Tapa blanda
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Título
Scanning Spreading Resistance Microscopy and its Application to Passive and Active Semiconductor Device Characterization
Autor
Doring, Stefan
Editorial
Logos Verlag Berlin
Año de publicación
2017
Estado
New
Encuadernación
paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
383254450X
ISBN 13
9783832544508
Edición
1st.
Peso del artículo
8 onzas
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