Proceedings of the Second Symposium on Defects in Silicon II (Proceedings Volume 91-9)

Bullis, W. Murray & Ulrich Gosele & Fumio Shimura, Editors

Editorial: The Electrochemical Society,, Pennington , N. J., 1991
Condición: Very Good Encuadernación de tapa blanda

Librería: Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Estados Unidos de America

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