Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III - Volume 2877, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 16-17 October 1996, Austin, Texas

Idioma: inglés

Editorial: The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A., 1996

0819422754 / 9780819422750

  • Primera edición
  • Tapa blanda
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Título
Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing III - Volume 2877, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 16-17 October 1996, Austin, Texas
Autor
DeBusk, Damon; Chen, Ray T. (Eds); et.al.
Editorial
The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A.
Año de publicación
1996
Estado
Very Good
Sobrecubierta
No Jacket
Tipo de libro
Ex-Library
Encuadernación
Soft cover
Idioma
inglés
ISBN 10
0819422754
ISBN 13
9780819422750
Edición
1st Edition.
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