Automatic Testing and Evaluation of Digital Integrated Circuits. Este artículo no está disponible.
Idioma: inglés
Editorial: Reston Publishing Company, Inc., a Prentice-Hall Company, Reston, VA, 1981
- Primera edición
- Tapa dura
- Usado

Vendedor patrimonial
Librería: Virtuous Volumes et al., Wilson, WI, Estados Unidos de AmericaVirtuous Volumes et al.
Vendedor de 5 estrellas
Vendedor de IberLibro desde 7 de mayo de 1999
No disponible
Tapa dura
Condición: Usado - Bueno
EUR 13,83
Descripción del artículo del vendedor
2 1/4" by 1" piece cut from top corner of front endpage, a couple of corners rubbed right at tips. Dust jacket has 1/2" tear with crease on top rear panel edge, 1/4" chip from top front panel edge, other light edgewear. Gray cloth with black lettering on spine and front cover. 236 pages.
N° de ref. del artículo 017167
Detalles bibliográficos
- Título
- Automatic Testing and Evaluation of Digital Integrated Circuits
- Autor
- Healy, James T.
- Editorial
- Reston Publishing Company, Inc., a Prentice-Hall Company, Reston, VA
- Año de publicación
- 1981
- Estado
- Very Good
- Sobrecubierta
- Good+
- Encuadernación
- Hard Cover
- Idioma
- inglés
- ISBN 10
- 0835902560
- ISBN 13
- 9780835902564
- Edición
- 1st Printing
- Dimensiones
- 8vo - over 7¾" - 9¾" tall
- Catálogos de vendedores
- Science and Environment