Automated Testing of Electro-Optical Systems: Proceedings of SPIE, The International Society for Optical Engineering, Vol 941, 7-8 April 1988, Orlando, Florida

John Nestler (Editor); Philip I. Richardson (Editor)

ISBN 10: 0892529768 ISBN 13: 9780892529766
Editorial: SPIE PRESS-The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A., 1988
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa blanda

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