X ray diffraction elevated temperatures de chung deborah (3 resultados)
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Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, AlemaniaAntiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG
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Condición: Usado - Excelente
EUR 24,30
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Hardcover. Condición: Sehr gut. VIII, 268 S., with numerous figures, As library copy in very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 725.
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Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 189,90
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Condición: gut. 1993. X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis. In deutscher Sprache. pages.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 345,64
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hardcover. Condición: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
