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X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis.
Idioma: Inglés
Publicado por New York, NY: VCH., 1993
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Sehr gut. VIII, 268 S., with numerous figures, As library copy in very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 725.
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X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,90
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 268 | Sprache: Deutsch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
