Syntactic structural pattern recognition (159 resultados)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
- Tapa blanda
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
- Tapa blanda
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
- Tapa blanda
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hardcover. Condición: Wie neu. 486 p. Like new. ISBN: 9783540192091 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1026.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Condición: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
- Tapa blanda
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Pasi Fr�nti, Francisco Escolano, Marcello Pelillo, Marco Loog, Gavin Brown
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2018-08-02, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
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EUR 67,16
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
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