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Publicado por Springer, 1992
ISBN 10: 0306441756ISBN 13: 9780306441752
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Libro
Hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!.
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Publicado por Plenum Press, 1986
ISBN 10: 0306421402ISBN 13: 9780306421402
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Libro
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Publicado por Springer, 1981
ISBN 10: 030640768XISBN 13: 9780306407680
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Libro
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Publicado por Springer, 2007
ISBN 10: 0306472929ISBN 13: 9780306472923
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Libro
Condición: Very Good. Ships from the UK. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Publicado por Springer
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Hardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.38.
Publicado por Springer US, 1990
ISBN 10: 0306435918ISBN 13: 9780306435911
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Libro
Condición: Gut. Zustand: Gut - Gebrauchs- und Lagerspuren. Außen: verschmutzt. | Seiten: 424 | Sprache: Englisch.
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Publicado por Springer Nature B.V., 2013
ISBN 10: 1461332745ISBN 13: 9781461332749
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Libro Impresión bajo demanda
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Publicado por Springer New York, 2017
ISBN 10: 149396674XISBN 13: 9781493966745
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Libro
Condición: Very Good. Ships from the UK. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Publicado por Springer 2011-09, 2011
ISBN 10: 1461276535ISBN 13: 9781461276531
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Libro
PF. Condición: New.
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Publicado por Springer, 2013
ISBN 10: 1461349699ISBN 13: 9781461349693
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Libro Impresión bajo demanda
Condición: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book.
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Publicado por Springer, 2013
ISBN 10: 1461332753ISBN 13: 9781461332756
Librería: booksXpress, Bayonne, NJ, Estados Unidos de America
Libro
Soft Cover. Condición: new.
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Publicado por Springer, 2013
ISBN 10: 1475790295ISBN 13: 9781475790290
Librería: booksXpress, Bayonne, NJ, Estados Unidos de America
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Soft Cover. Condición: new.
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Publicado por Springer New York Aug 2018, 2018
ISBN 10: 1493982699ISBN 13: 9781493982691
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners - engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers - will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope's software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD).With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a 'dual beam' platform incorporating both electron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal.Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managersEmphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful resultsProvides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurementsMakes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation.Includes case studies to illustrate practical problem solvingCovers Helium ion scanning microscopyOrganized into relatively self-contained modules - no need to 'read it all' to understand a topicIncludes 576 pp. Englisch.
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