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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,26
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 363 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,23
Convertir monedaEUR 5,18 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Publicado por Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10: 1489983139 ISBN 13: 9781489983138
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,12
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 162,43
Convertir monedaEUR 9,88 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 388.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,28
Convertir monedaEUR 5,18 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,23
Convertir monedaEUR 64,46 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,49
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 181,63
Convertir monedaEUR 28,81 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,43
Convertir monedaEUR 64,46 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,54
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systemsInstructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliabilityIncludes necessary background information on design f.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Convertir monedaEUR 11,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices. 388 pp. Englisch.
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Power-Aware Testing and Test Strategies (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 94,25
Convertir monedaEUR 40,00 gastos de envío desde Italia a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Publicado por Springer US, Springer New York Sep 2014, 2014
ISBN 10: 1489983139 ISBN 13: 9781489983138
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Convertir monedaEUR 35,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 388 pp. Englisch.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2014
ISBN 10: 1489983139 ISBN 13: 9781489983138
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,88
Convertir monedaEUR 8,32 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 593.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,26
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systemsInstructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliabilityIncludes necessary background information on design f.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 126,26
Convertir monedaEUR 40,00 gastos de envío desde Italia a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Publicado por SPRINGER NATURE Nov 2009, 2009
ISBN 10: 1441909273 ISBN 13: 9781441909275
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power.
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,92
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power.
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,78
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