Pattern recognition data mining (258 resultados)
Solving Data Mining Problems Through Pattern Recognition (Bk/CD)
Lee, Yuchun,Roy, Benjamin Van,Reed, Christopher D.,Kennedy, Ruby L.,Lippmann, Richard P.
- Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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Condición: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1100grams, ISBN:9780130950833.
Editorial: Prentice Hall, 1997
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Librería: Library House Internet Sales, Grand Rapids, OH, Estados Unidos de AmericaLibrary House Internet Sales
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EUR 5,30
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. No Jacket. Data mining is an exploding technology increasingly used in major industries like finance, aerospace, and the medical industry. To truly take advantage of data mining capabilities, one must use and understand pattern recognition techniques. They are addressed in this book along with a tutor…ial on how to use the accompanying pattern software ("Pattern Recognition Workbench") on the CD-ROM. Piece(s) of the spine missing. Please note the image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item. Book.
Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematics, 2007
- Tapa blanda
Librería: Austin Goodwill 1101, Austin, TX, Estados Unidos de AmericaAustin Goodwill 1101
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Condición: good. Book shows general signs of use and handling. May have light wear on the cover or edges and minimal writing or highlighting. Binding remains tight, and pages are clean and readable.
Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematics, 2007
- Tapa blanda
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de AmericaZubal-Books, Since 1961
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EUR 16,42
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Condición: Very Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, Aug. 31 (SALE item)* 184 pp., Paperback, previous owner's name to verso of the front cover else very good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible… for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematic, 2007
- Tapa blanda
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EUR 20,46
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EUR 17,51
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EUR 16,95
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Paperback. Condición: Very Good. very clean softcover. no marks. clean text. solid binding. very light wear. ISBN matches listing Fast service with confirmation, no international or priority orders over 4lbs.
Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematics, 2007
- Tapa blanda
Librería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de AmericaGoodwill of Silicon Valley
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EUR 20,47
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Condición: very_good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in very good condition! The cover and any other included accessories are also in very good condition showing some minor use. The spine is straight, there are no rips tears or creases on the cover or the pages.
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Librería: The Book Cellar, LLC, Nashua, NH, Estados Unidos de AmericaThe Book Cellar, LLC
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paperback. Condición: Very Good. Great used condition.Over 1,000,000 satisfied customers since 1997! Choose expedited shipping (if available) for much faster delivery. Delivery confirmation on all US orders.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2004
Serie: Libro 1 de 23 - Chapman & Hall/CRC Computer Science & Data Analysis
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press September 2019, 2019
Serie: Libro 1 de 23 - Chapman & Hall/CRC Computer Science & Data Analysis
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EUR 28,04
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Trade Paperback. Condición: VG. used trade paperback edition. lightly shelfworn, corners perhaps slightly bumped. pages and binding are clean, straight and tight. there are no marks to the text or other serious flaws.
Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematics, 2007
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EUR 44,41
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EUR 58,02
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Idioma: Inglés
Editorial: Society for Industrial and Applied Mathematics, 2007
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Condición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 61,60
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Solving Data Mining Problems Through Pattern Recognition (Data Warehousing Institute Series from Prentice Hall Ptr)
Ruby L. Kennedy, Yuchun Lee, Benjamin van Roy, Christopher D. Reed, Dr. Richard P. Lippman
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Hardcover. Condición: Very Good. Solving Data Mining Problems Through Pattern Recognition (Data Warehousing Institute Series from Prentice Hall Ptr) This book is in very good condition and will be shipped within 24 hours of ordering. The cover may have some limited signs of wear but the pages are clean, intact and the spine rema…ins undamaged. This book has clearly been well maintained and looked after thus far. Money back guarantee if you are not satisfied. See all our books here, order more than 1 book and get discounted shipping. .
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
Solving Data Mining Problems Through Pattern Recognition (Data Warehousing Institute Series from Prentice Hall Ptr)
Ruby L. Kennedy, Yuchun Lee, Benjamin van Roy, Christopher D. Reed, Dr. Richard P. Lippman
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Librería: Bahamut Media, Reading, Reino UnidoBahamut Media
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