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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 18,52
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,18
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,45
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,98
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,65
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 27,65
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 27,94
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 38,24
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,75
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,12
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Añadir al carritoCondición: Like New. This is a reproduction of an out of print title. This book may have occasional imperfections such as missing or blurred pages, poor pictures, errant marks, etc. that were either part of the original artifact, or were introduced by the scanning process. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,87
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,71
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,08
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 63,78
Convertir monedaEUR 9,85 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 88.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Publicado por Books on Demand|BiblioScholar, 2012
ISBN 10: 1288311508 ISBN 13: 9781288311507
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,74
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. The high cost of failure for microelectronic devices operating in the space environment has led to a need for an accurate characterization of a device&aposs reliability prior to being deployed. In addition, significant cost savings can be achieved by deter.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Publicado por Creative Media Partners, LLC Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1288311508 ISBN 13: 9781288311507
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,86
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - The high cost of failure for microelectronic devices operating in the space environment has led to a need for an accurate characterization of a device's reliability prior to being deployed. In addition, significant cost savings can be achieved by determining this reliability prior to fabrication. High performance and flexibility requirements for many space applications have led to an integration of small feature-sized field programmable gate arrays (FPGA) into system designs. Specifically, feature sizes as small as 130, 90, and 65 nm. In this research, a characterization of the space environment is constructed specifically to address the typical conditions that can affect the performance and functionality of small feature-sized FPGAs, centered on temperature, non-ideal supply voltage, and radiation effects. A simulation technique is developed to determine the reliability of a microelectronic device prior to fabrication and deployment into the space environment. The technique is based on identifying the key elements of a circuit, simulating these key elements under each characterized condition individually, and then a comprehensive simulation of the elements under all enumerated combinations of the characterized conditions at the transistor-level using the HSPICE device simulation tool. Reliability calculations are performed based on simulation results and identified critical performance criteria. A demonstration of the technique is accomplished showing the poor reliability of non-radiation hardened small feature-sized commercial-off-the-shelf (COTS) FPGAs in four common satellite orbits around the earth. The results are then compared to an established, radiation hardened FPGA.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 49,00
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 101,26
Convertir monedaEUR 28,92 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,70
Convertir monedaEUR 10,24 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,84
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,21
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Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 203.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,50
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 88.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,02
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