Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
model based testing embedded systems (10 resultados)
Comentarios
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (10)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (10)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Bueno o Aceptable (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Encuadernación
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (2)
- No impresión bajo demanda (7)
Idioma (1)
Precio
- Cualquier precio
- Menos de EUR 20 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- EUR 20 a EUR 45 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Más de EUR 45
Gastos de envío gratis
- Envío gratis a Estados Unidos de America (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 80,85
Convertir monedaEUR 3,40 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,42
Convertir monedaEUR 7,44 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,87
Convertir monedaEUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
-
MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,43
Convertir monedaEUR 28,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 688 pages. 10.00x7.01x1.50 inches. In Stock.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 213,09
Convertir monedaEUR 3,40 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660 Index.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 200,31
Convertir monedaEUR 17,74 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 303,48
Convertir monedaEUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 91,74
Convertir monedaEUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,66
Convertir monedaEUR 7,44 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660 Illus. This item is printed on demand.
-
Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 265,89
Convertir monedaEUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
