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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,78
Convertir monedaEUR 10,50 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,94
Convertir monedaEUR 10,08 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,15
Convertir monedaEUR 17,52 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,18
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,56
Convertir monedaEUR 17,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,69
Convertir monedaEUR 11,87 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 688 pages. 10.00x7.01x1.50 inches. In Stock.
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,49
Convertir monedaEUR 17,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,98
Convertir monedaEUR 17,52 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: dsmbooks, Liverpool, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 155,87
Convertir monedaEUR 32,04 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. New. book.
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Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,57
Convertir monedaEUR 17,79 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 230,16
Convertir monedaEUR 17,52 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 270,13
Convertir monedaEUR 17,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 260,36
Convertir monedaEUR 29,67 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 283,48
Convertir monedaEUR 17,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 298,91
Convertir monedaEUR 10,08 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660 Index.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 297,55
Convertir monedaEUR 11,87 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 688 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 296,12
Convertir monedaEUR 17,52 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Inc Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 304,51
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 311,13
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,74
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 271,05
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 265,89
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