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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 80,12
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 80,41
EUR 7,42 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 83,12
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 688.
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,24
EUR 17,12 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Model-based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,21
EUR 17,12 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,49
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
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MODEL-BASED TESTING FOR EMBEDDED SYSTEMS
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 161,91
EUR 17,12 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 688 pages. 10.00x7.01x1.50 inches. In Stock.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Ltd Mär 2017, 2017
ISBN 10: 1138076457 ISBN 13: 9781138076457
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,63
EUR 62,27 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware.
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Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 199,67
EUR 17,68 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 216,66
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660 Index.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 233,61
EUR 17,12 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 270,43
EUR 17,12 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Model-Based Testing for Embedded Systems (Computational Analysis, Synthesis, and Design of Dynamic Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 261,04
EUR 28,54 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 247,79
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Justyna Zander is a postdoctoral research scientist at Harvard University (Harvard Humanitarian Initiative) in Cambridge (Boston Area) MA, USA (since 2009) and Project Manager at the Fraunhofer Institute for Open Communication Systems in.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 298,73
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660.
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Model-Based Testing for Embedded Systems
Publicado por Taylor & Francis Group, 2011
ISBN 10: 1439818452 ISBN 13: 9781439818459
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,38
EUR 7,42 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. xxvii + 660 Illus. This item is printed on demand.
