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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,64
Convertir monedaEUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,32
Convertir monedaEUR 5,75 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,66
Convertir monedaEUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications
Publicado por Wiley-VCH Verlag GmbH 2022-05-25, 2022
ISBN 10: 3527349510 ISBN 13: 9783527349517
Idioma: Inglés
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 85,26
Convertir monedaEUR 17,73 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,18
Convertir monedaEUR 17,17 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,00
Convertir monedaEUR 17,17 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,00
Convertir monedaEUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Andrew T. S. Wee is a class of 62 Professor of Physics, and Director of the Surface Science Laboratory at the National University of Singapore (NUS). His research interests are in surface and nanoscale science, scanning tunnelling microscopy (STM) and synch.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,30
Convertir monedaEUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials | Andrew Thye Shen Wee | Taschenbuch | Paperback | 208 S. | Englisch | 2022 | Wiley-VCH | EAN 9783527349517 | Verantwortliche Person für die EU: Wiley-VCH GmbH, Boschstr. 12, 69469 Weinheim, product-safety[at]wiley[dot]com | Anbieter: preigu.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: Wegmann1855, Zwiesel, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,30
Convertir monedaEUR 25,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware -A one-of-a-kind text offering an introduction to the use of spectroscopic ellipsometry for novel material characterization.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,30
Convertir monedaEUR 65,54 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 99,22
Convertir monedaEUR 13,71 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book.
