Electromagnetic testing (116 resultados)
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Electromagnetic Testing: Eddy Current, Flux Leakage, and Microwave Nondestructive Testing (Nondestructive Testing Handbook)
Mcmaster, Robert Charles [Editor]; Mester, Michael L. [Editor];
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Paperback. Condición: New. Print on Demand. This book explores the feasibility of using a near-field phased array for electromagnetic susceptibility testing. The author's goal is to find a way to control the electromagnetic fields produced by an array of antennas to generate a uniform plane wave within a specific test volume. Th…e book develops a theoretical framework for this task, considering a range of array geometries and examining the effects of element spacing and tapering. The author explores how the techniques of array synthesis, similar to those used for predicting far-field antenna patterns, can be applied to generate a highly controlled near-field environment. The book examines the potential advantages of using near-field arrays for susceptibility testing, highlighting the potential for greater control over the test environment and the ability to scan the angle of arrival of the electromagnetic waves. The authorââ â¢s research provides insights into the complex relationship between source distributions, array geometry, and the resulting electromagnetic fields, paving the way for more efficient and accurate electromagnetic susceptibility testing. This book is a reproduction of an important historical work, digitally reconstructed using state-of-the-art technology to preserve the original format. In rare cases, an imperfection in the original, such as a blemish or missing page, may be replicated in the book. print-on-demand item.
Idioma: Inglés
Editorial: Direction des centres d'experimentations nucleaires CEA/DAM, 2000
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Librería: Le-Livre, SABLONS, FranciaLe-Livre
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Condición: Usado - Muy bueno
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Couverture souple. Condición: bon. R200109240: 2000. In-8. Broché. Bon état, Couv. convenable, Dos satisfaisant, Intérieur frais. 199 pages. . . . Classification Dewey : 996-Autres régions du pacifique.
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Condición: New. In.
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paperback. Condición: New. Paperback. Pub Date :2013-11-01 Pages: 249 Language: Chinese Publisher: Electronic Industry Press Basic information Title : Electromagnetic compatibility and system testing technology machine Price: 48 yuan Author: Publisher : Electronic Industry Press Publication Date : November 1. 2013 ISBN: 97871212…15810 words: pages : 249 Edition : 1st Edition Binding: Paperback : Weight : 522 g editor's Choice Electromagnetic compatibility and system testing machine technology by the Shangkai Ming editor.
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Editorial: Standards Press of China; 1 (December 1. 2009), 2009
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Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. Language:Chinese.Author:ZHONG GUO BIAO ZHUN CHU BAN SHE.Binding:Soft cover.Publisher:Standards Press of China; 1 (December 1. 2009).
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-03 Pages: 253 Publisher: Tsinghua University Press This book systematically discusses the electromagnetic environment and electromagnetic compatibility. design. interference and test technology. The book is divided into 9 chapters. Chapter 1 explains the basic… concepts of electromagnetic compatibility and commonly used measurement units and test numerical processing methods; Chapter 2 introduces the basic knowledge of signal spectrum; Chapter 3 intro.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 3 de 20 - Springer Series in Measurement Science and Technology
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2025-08 Pages: 232 Publisher: China Machine Press This book provides a brief introduction to laboratory accreditation. the development history of EMC testing laboratories. and the basic accreditation process. Combining practical experience in EMC testing laboratory… accreditation. it elucidates key accreditation points and main methods for quality improvement. Furthermore. based on the development trends of EMC testing technology. it provides a detailed in.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 3 de 20 - Springer Series in Measurement Science and Technology
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 3 de 20 - Springer Series in Measurement Science and Technology
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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