Defect control semiconductors international (1 resultados)

Título:

Defect Control in Semiconductors: Proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors The Yokohama 21st Century Forum Yokohama, Japan, September 17-22, 1989 (2 vols.set/ 2 Bände KOMPLETT)
Sumino, K.:
Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science Ltd.; 1990
0444884297 / 9780444884299
- Tapa dura
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, , Alemaniabooks4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG)
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gebundene Ausgabe. Condición: Gut. 1746 Seiten; durchgehende Zählung; Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch; ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. KOMPLETTPREIS für 2 Bände; bei V…
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Defect Control in Semiconductors: Proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors The Yokohama 21st Century Forum Yokohama, Japan, September 17-22, 1989 (2 vols.set/ 2 Bände KOMPLETT)