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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,79
Convertir monedaEUR 10,22 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 312 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 40,19
Convertir monedaEUR 9,84 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 312.
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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,98
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 312.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,22
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Australia a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale And Application Of Ieee Std. 1500 (frontiers In Electronic Testing)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,20
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,00
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Australia a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 123,88
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500¿
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,12
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 158,34
Convertir monedaEUR 9,84 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,64
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,45
Convertir monedaEUR 17,10 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,76
Convertir monedaEUR 25,64 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,69
Convertir monedaEUR 64,15 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,63
Convertir monedaEUR 17,33 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,26
Convertir monedaEUR 17,10 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,94
Convertir monedaEUR 17,33 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,14
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 182,03
Convertir monedaEUR 28,88 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,68
Convertir monedaEUR 64,15 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 247,94
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,54
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Convertir monedaEUR 11,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500tm provides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500. This book focuses on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choices and other decisions relevant to this IEEE standard. The authors provide background information about some of the choices and decisions made throughout the design of IEEE Std. 1500. 308 pp. Englisch.
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The Core Test Wrapper Handbook
Publicado por Springer US, Springer US Okt 2014, 2014
ISBN 10: 148998769X ISBN 13: 9781489987693
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
Convertir monedaEUR 35,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion ¿ a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 308 pp. Englisch.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,08
Convertir monedaEUR 10,22 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,59
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 308.
