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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,63
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,66
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,66
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale And Application Of Ieee Std. 1500 (frontiers In Electronic Testing)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 99,93
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,98
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 108,10
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,58
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 107,54
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,50
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 113,18
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 113,26
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,25
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 154,11
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,00
EUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,81
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,42
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,20
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,15
EUR 2,27 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500¿
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,12
EUR 62,35 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,37
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 187,54
EUR 28,45 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387307516 ISBN 13: 9780387307510
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 224,51
Gratis gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 2006 ed. In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 178,14
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387307516 ISBN 13: 9780387307510
Idioma: Inglés
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 213,36
EUR 73,97 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 2006 ed. In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 247,94
EUR 63,26 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500tm provides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500. This book focuses on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choices and other decisions relevant to this IEEE standard. The authors provide background information about some of the choices and decisions made throughout the design of IEEE Std. 1500. 308 pp. Englisch.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 98,54
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,12
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,98
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic TestingPublicado por Springer US, Springer US Okt 2014, 2014
ISBN 10: 148998769X ISBN 13: 9781489987693
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,69
EUR 60,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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