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C, H, N and O in Si and Characterization and Simulation of Materials and Processes. Part I and II. (European Materials Research Society Symposia Proceedings, Vol. 56).
Idioma: Inglés
Publicado por Amsterdam (NL), Elsevier Science Ltd., 1996
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 51,00
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Gut. 294, 256 p., with numerous figures, 29 cm, Good condition. Ex-Library with usual markings. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1960.
