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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,39
Convertir monedaGratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 0.85.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,45
Convertir monedaEUR 3,16 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,91
Convertir monedaGratis gastos de envío desde Australia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,92
Convertir monedaEUR 28,29 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,49
Convertir monedaEUR 7,56 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,49
Convertir monedaEUR 7,56 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,54
Convertir monedaEUR 3,36 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,88
Convertir monedaEUR 3,36 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,88
Convertir monedaEUR 13,78 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,92
Convertir monedaEUR 13,78 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,91
Convertir monedaEUR 61,39 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 178,14
Convertir monedaEUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (16))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 212,04
Convertir monedaEUR 28,75 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 227,00
Convertir monedaEUR 28,75 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 176 pages. 9.21x6.14x0.40 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,96
Convertir monedaEUR 28,75 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 247,94
Convertir monedaEUR 62,13 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
