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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,21
Convertir monedaEUR 5,18 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 185.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,38
Convertir monedaEUR 5,18 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,69
Convertir monedaEUR 10,21 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,50
Convertir monedaEUR 6,82 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,30
Convertir monedaEUR 17,05 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 64,34
Convertir monedaEUR 9,81 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 60,99
Convertir monedaEUR 17,29 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,36
Convertir monedaEUR 17,30 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,99
Convertir monedaEUR 17,05 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,62
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,57
Convertir monedaEUR 17,30 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,37
Convertir monedaEUR 11,54 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 378 pages. 9.21x6.14x1.02 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 96,58
Convertir monedaEUR 17,29 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,13
Convertir monedaEUR 63,97 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,83
Convertir monedaEUR 7,88 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 535.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,13
Convertir monedaEUR 10,21 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,15
Convertir monedaEUR 17,05 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,71
Convertir monedaEUR 6,82 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,75
Convertir monedaEUR 5,18 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 149,02
Convertir monedaEUR 9,81 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,32
Convertir monedaEUR 17,30 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,09
Convertir monedaEUR 17,05 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,82
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,08
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,97
Convertir monedaEUR 63,97 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,51
Convertir monedaEUR 11,54 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,24
Convertir monedaEUR 92,12 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 196,04
Convertir monedaEUR 28,84 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. New. book.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,40
Convertir monedaEUR 11,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer. 380 pp. Englisch.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,53
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