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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,35
EUR 2,29 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,15
EUR 3,47 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,76
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 62,57
EUR 3,47 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 58,78
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,16
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,55
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,42
EUR 14,34 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 185.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 60,17
EUR 17,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,52
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 83,33
EUR 14,23 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 378 pages. 9.21x6.14x1.02 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 95,29
EUR 17,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,70
EUR 70,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2022 | CRC Press | EAN 9780367538361 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,55
EUR 7,80 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,62
EUR 2,29 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,42
EUR 3,47 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,83
EUR 17,07 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 143,68
EUR 3,47 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,07
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 139,72
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,08
EUR 18,32 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 535.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,01
EUR 2,29 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 171,14
EUR 28,45 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 197,76
EUR 14,23 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,91
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,54
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Publicado por Taylor & Francis Group, 2022
ISBN 10: 0367538369 ISBN 13: 9780367538361
Idioma: Inglés
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 64,77
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,40
EUR 23,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer. 380 pp. Englisch.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 51,38
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.
