9789810248420 - oxide reliability: a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability: 23 (selected topics in electronics and systems) (3 resultados)
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Condición: Bueno. : Este libro trata sobre la fiabilidad del óxido de silicio, abordando el desgaste, la ruptura y la fiabilidad de este material. Se centra en el transistor metal-óxido-semiconductor (MOS) y su invención en 1960. Cubre temas seleccionados en electrónica y sistemas, proporcionando un resumen del tema. EAN: 978981…0248420 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Oxide Reliability Autor: D. J. Dumin Editorial: World Scientific Publishing Company Idioma: en Páginas: 280 Formato: tapa dura.
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Hardcover. Condición: Fine. Estado de la sobrecubierta: Very Good. Hardcover. Book Condition: Fine. Jacket Condition: Very Good. World Scientific Publishing Company, 2002. 280 pages. Nice Firm Clean copy ! Jacket has 1 short tear. Size: 10 x 6.7 x 0.7. Engineering Science/Nature::Chemistry 6039L.
