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9789048181124 - Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair: 32 (Lecture Notes in Electrical Engineering) de Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bert... (13 resultados)
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,81
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,23
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Functional Design Errors in Digital Circuits | Diagnosis Correction and Repair
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,10
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Functional Design Errors in Digital Circuits | Diagnosis Correction and Repair | Kai-Hui Chang (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xxiv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048181124 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 214,24
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 226.
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,14
Envío por EUR 61,74
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering (32))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 248,93
Envío por EUR 29,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 284,04
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Functional Design Errors in Digital Circuits (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,26
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,79
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 224 pp. Englisch.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 224 pp. Englisch.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,60
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 226 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 228,21
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