ISBN: 9787111187066 - 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 (1 resultados)

ISBN: 
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (1)

  • Nuevo (1)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Machine Press, 1991

    7111187067 / 9787111187066

    • Tapa blanda

    Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 65,90

    Envío por EUR 16,03 
    Se envía de China a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    paperback. Condición: New. Paperback. Pub Date: 2006 05 of Pages: 284 in Publisher: Machinery Industry Press. digital integrated circuits with embedded kernel system test design (with CD) discusses the integrated circuit with embedded digital systems testing technology. and put forward many important and key solutions. Practical problems encountered in testing embedded cores and SoC test problems are discussed from the investment cost of the technology and products. Digital integrated circuits and embedded kernel syste.…